Технологический потенциал Калининградской области

Технологический потенциал Калининградской области

Наименование
 оборудования
Описание возможностей примененияОписание
возможностей
коммерциализации
услуг с
применением
оборудования
Технические характеристикиОриентировочная стоимость услугКонтакты ответственного сотрудника
1Вертикально-фрезерный обрабатывающий центр
c ЧПУ VF-2
 (Haas Automation) с поворотным столом
HRT 210
Обработка с помощью фрезы плоских и фасонных поверхностей, тел вращения, зубчатых колёс и т.п. металлических и других заготовокВысокоточная металлообработкаX,Y,Z перемещения, мм 762х406х508 Размер стола, мм 914х356 Максимальная скорость шпинделя, об/мин 8100 Максимальная развиваемая мощность, кВт 14,9 Повторяемость, мм ±0,0025 Размер конуса ISO 40 Максимальная частота вращения 8100 об/мин Максимальный крутящий момент 122 Нм (2000 об/мин) Максимальная мощность на шпинделе 22,4 кВт Способ передачи крутящего момента прямой привод Ускоренные перемещения 25,4 м/мин Максимальная скорость подачи 16,5 м/мин Точность позиционирования ±0,005 мм Вес станка 3311 кгЦена договорная, в зависимости от сложности работ.Синицын
Александр Валерьевич
телефон:
+7 962 261 60 71,
электронная почта:
avs_1974@mail.ru.
2Импульсная Nd:YAG лазерная система с перестраиваемой длиной волны (Solar Laser System)Накачка Ti-Sapphire лазеров и ПГС
Накачка лазеров на красителях
Спектроскопия
Учебные стенды по физике лазеров и лазерной оптике
Абляция
Лазерная чистка, сверление, зондирование атмосферыЭнергия импульсов до 500 мДж, частота импульсов до 50 Гц, встроенные генераторы 2 и 3 гармоник, П-образный профиль нуча, время импульса - 10 нсЦена договорная, в зависимости от сложности работ.Самусев
Илья Геннадьевич,
телефон
+7 911 862 04 58, электронная почта: is.cranz@gmail.com.
3Комплекс цифровых средств регистрации оптических сигналов и изображений Marlin, Pike (Alliedvision)Камеры технического зрения для интеграции в измерительные комплексыСоздание прототипов
измерительных устройств
и систем контроля
Интерфейс IEEE 1394a - 400 Mb/s, 1 port
Разрешение 1628 x 1236
Разрешение 2452 x 2054
АЦП 14 бит
АЦП 12 бит
10000Алексеенко
Игорь Вячеславович
телефон:
+7 906 232 75 06,
электронная почта:
Ialekseenko@kantiana.ru.

4Лазер твердотельный импульсный с генерацией двух гармоник SpitLight Hybrid II (Innolas)Лазерные технологии и научное применениеСоздание прототипов
измерительных устройств
и систем контроля. Обработка материалов
Частота повторения: от 1 до 200 Гц (следующие характеристики для 50 Гц)
 Импульсная энергия при 1,064 нм:> 450 мДж
 Импульсная энергия при 532 нм:> 250 мДж
 Импульсная энергия при 355 нм:> 125 мДж
 Импульсная энергия при 266 нм:> 70 мДж
 Импульсная энергия при 213 нм:> 10 мДж
20000Алексеенко
Игорь Вячеславович
телефон:
+7 906 232 75 06,
электронная почта:
Ialekseenko@kantiana.ru.
5Лазерная сканирующая система RIEGL VZ-400 в комплекте с цифровой камерой Nikon D700Получение геометрии и измерение любых крупномасштабных строительных и промышленных объектовПодготовка исполнительной конструкторской документации, чертежей, 3хмерных моделей , подготовка геодезических планов карьеров, дорог, площадок, крупных земельных участков. Оценка кренов, прогибов, уклонов. Реставрация и реконструкция. Определение объемов грунта. Диапазон измерений: (1….600) м
Класс точноти, погрешность:
ПГ 0,00050° (±3 мм) непосредственный,
(±1 мм) после компьютерной обработки.
5000 за позицию съемкиРуднев
Глеб
Сергеевич
телефон:
+7
911 454 38 09, электронная почта:
nevrud@mail.ru.
6Лазерные модули для когерентно-оптической нанометрологии SLM-417, LCM-S-112-200-NP25Лазерные технологии и научное применение. Голографическое ТВСоздание прототипов
измерительных устройств
и систем контроля
Длина волны излучения 1064 нм, 532 нм.
Мощность 50 мВт, 200 мВт
20000000Алексеенко
Игорь Вячеславович
телефон:
+7 906 232 75 06, электронная почта: Ialekseenko@kantiana.ru
7Масс-спектрометр вторичных ионовМасс-спектрометрия вторичных ионов (SIMS)- метод исследования вещества, путём определения отношения массы к заряду (качества) и количества заряженных частиц, полученных в результате распыления  поверхности образца первичным  сфокусированным ионным пучком. Анализ состава твёрдых поверхностей и тонких плёнок.• Возможность исследования диэлектриков
• Режимы положительного и отрицательного МСВИ
• Диапазон масс >1000 m/Z
• возможность очистки поверхности путем ионного травления
• возможность провести анализ за 5 минут
1500 руб /часГойхман
Александр Юрьевич
телефон:
+7 4012 595-595 (9
022),
электронная почта: agoikhman@kantiana.ru
8Микрофокусная система рентгеновского контроля Y.Cheetah 160kVКонтроль в областях в электронной и автомобильной промышленности, военных проектов, авиастроении, телекоммуникациях и медицинской техники.Обеспечение контроля в областях в электронной и автомобильной промышленности, военных проектов, авиастроении, телекоммуникациях и медицинской техники.Область инспекции (max.) 460 mm x 410 mm (18” x 16”); Время до первого изображения ~ 10 s; Мишень: прострельного типа.
Материал мишени: Вольфрам
Диапазон напряжения: 25–160 kV
Диапазон тока: 0.01–1.0 mA
Мощность трубки: 64 W
Мощность на мишени (max.) 10 W
Разрешение: <500 nm
Контроль интенсивности излучения: TXI

Время скана КТ (min.) 8 s;
Время реконструкции (min.) ~ 90 s .

Размер образца (max.) 800 mm x 500 mm (31” x 19”);
Движение стола по осям: X, Y ;
Наклон детектора: +/-70° (140°) .
Цена договорная, в зависимости от сложности работЛейцин
Владимир Нояхович телефон:
+7 911 487 61 71, электронная почта:
vleitsin@kantiana.ru

9Модульный спектрометр динамического и статистического рассеяния света Photocor-FCПриборы Photocor предназначены для измерения размеров наночастиц, дзета-потенциала, коэффициента диффузии жидкостей и молекулярного веса полимеров. Приборы могут использоваться в самых различных условиях, включая исследовательские, заводские и учебные лаборатории. Измерения размеров наночастиц, дзета-потенциала, коэффициента диффузии жидкостей и молекулярного веса полимеровДиапазон измерения размеров микрочастиц - Размер частиц: от 0.5 нм до 10 мкм 1 (диаметр)
Коэффициент диффузии: 10-5 ... 10-10 см2/с
Молекулярный вес: 1000 Да ... 1000 Мда, погрешность измерения - 1%, объем образца - от 50 мкл до 10 мл, углы рассеяния от 10 до 150 град с погрешностью 0,01 град, анализатор сингралов - программируемый коррелятор Phtocor-FC для авто- и кросскорреляционных измерений. Линейная и логарифмическая шкалы времени. Минимальное время выборки - 10 нс. Лазер - термостабилизируемый диодный лазер 638 нм, 25 мВт
Цена договорная. В зависимости от сложности работ.Самусев
Илья Геннадьевич
телефон:
+7 911 862 04 58, электронная почта: is.cranz@gmail.com
10Оже-микроанализатор JAMP-9500F (JEOL)Исследовательский комплекс на базе Оже-микроанализатора и энергодисперсионного рентгеноспектрального анализатора JEOL JAMP – 9500F. Предназначен для исследования внутренней структуры наноструктурированных материалов и многослойных покрытий. Наряду с качественным анализом поверхности предоставляет также информацию о количественном составе поверхности, исходя из интенсивности Оже-пиков. Позволяет анализировать химический состав поверхности и приповерхностных слоев, а в сочетании с ионным травлением – получать профили элементного и химического состава тонкопленочных образцов. Применим как для исследования материалов с объемной кристаллической структурой, так и для поликристаллических и аморфных материалов. Важным требованием к исследуемым материалам является совместимость с условиями высокого вакуума. Исследовательский комплекс обеспечивает высокое пространственное разрешение: (3 нм во вторичных электронах и 8 нм диаметр зонда для Оже-анализатора). Запатентованный «в-линзе» термополевой катод Шоттки в сочетании с усовершенствованной конденсорной линзой, позволяет получать значения тока зонда до 200 нА. Электронный спектрометр оборудован полусферическим электростатическим анализатором с многоканальным детектором, обеспечивающим максимальное энергетическое разрешение без потери чувствительности. JАMP-9500F позволяет получать изображения во вторичных электронах, производить Оже-картирование, анализ по линии, анализ по глубине образца с применением ионного травления. JAMP-9500F обладает ионной пушкой для высокоскоростного распыления и нейтрализации заряда. Удобный и легко управляемый, JAMP-9500F также предлагает дополнительные функции анализа, такие как EDX (энергодисперсионный анализ) и XPS (фотоэлектронная спектроскопия).Исследования внутренней структуры наноструктурированных материалов и многослойных покрытий.Электронная пушка: термополевой эммитер Шоттки.
Ускоряющие напряжени:от 0.5 до 30 кВ
Ток зонда: от 10 пА до 200 нА
Разрешение (SEI): 3 нм (25 кВ, 10 пА)
Система анализа: полусферический электростатический анализатор
Диаметр зонда Оже (разрешение) - 8 нм (25 кВ, 1 нА)
Энергетическое разрешение - от 0,05 до 0,6 % (∆E/E)
Чувствительность: 840 000 имп/7 каналов в секунду (10 кВ, 10 нА, Cu-LMM, 0.6% ∆E/E, угол 60°)
Размеры образцов: диаметр до 20 мм, толщина до 5 мм
Степени свободы:
X: -48 мм до +10 мм
Y: ± 10 мм
Z: ± 6 мм
Наклон: от 0 до 90° 
Вращение: 360°
Ионная пушка:  травление и нейтрализация
Энергия пучка: от 0.01 до 4 кВ
Ионный ток: ≥ 2 мкА (3000 эВ),  ≥ 0,03 мкА (10 эВ)
Контроль газа - автоматический
Управляющая станция: HP UNIX v.11/Red Hat Linux

Возможности:
- получение спектра, профилирование по глубине, профиль по линии, Оже-картирование, SEI (изображение во вторичных электронах), анализ по большой площади, автоматизация анализа.
- качественный и количественный анализ, дифференциация, сглаживание, обработка изображений, создание подписей.
1500 руб /часГойхман
Александр Юрьевич
телефон:
+7 4012 595-595 (9022),
электронная почта: agoikhman@kantiana.ru
11Оптический рефлектометр EXFO FTB-1-730-023B-04Способен визуально показать состояние оптической линии. Возможности этого оборудования очень широкие: измерение длины линии и расстояния до неоднородности (сварка, коннектор, макроизгиб, трещина), определение потерь и величины отражений. Идеально подходит для формирования отчетов о состоянии волокна.Тестирование оптических линий Тестирование через разветвители (до 1x128)

Одномодовый порт для поиска проблем в работающих линиях
Динамический диапазон до 39 дБ;
Малое время измерения ускоряет развертывание сетей;
Возможно использование с EXFO Connect и iOLM;
Размер (В x Ш x Г): 130 мм x 36 мм x 252 мм;
Вес: 0,65 кг.
Цена договорная, в зависимости от сложности работГойхман
Александр Юрьевич
телефон:
+7 4012 595-595 (9022),
электронная почта: agoikhman@kantiana.ru
12Рамановским спектрометром LabRam HR (Horiba Jobin Yvon S.A.S.)Спектрометр вынужденного комбинационного рассеяния (Рамановский спектрометр) HORIBA LabRam HR 800. Используется для определения и характеристики молекулярного и кристаллического состава материалов. Является бесконтактным неразрушающим методом. Принцип работы рамановского спектрометра основан на эффекте комбинационного рассеяния света или эффекте Рамана, возникающем при рассеянии лазерного излучения веществом. В рассеянном свете появляются дополнительные частоты, определяемые колебаниями молекул или кристаллических структур этого вещества. Анализ полученного спектра позволяет определять собственные частоты колебаний молекул/кристаллических структур рассеивающего вещества, а это, в свою очередь, дает информацию о химическом составе и структуре вещества. Количественная и качественная оценка кристаллических структур, деформаций и напряжений;
 Идентификация веществ и их концентраций по молекулярному составу.
• Исследуемый спектральный диапазон 65-4000 см-1;
• Доступные времена выдержки от 0.1 сек. до 3 дней;
• Средняя ошибка 0,5 см-1;
• Используемый для возбуждения КРС спектра неоновый гелий неоновый лазер с длиной волны 633 нм. 
1500 руб /часГойхман
Александр Юрьевич
телефон:
+7 4012 595-595 (9022),
электронная почта: agoikhman@kantiana.ru
13Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER (Bruker)Предназначен для прецизионного исследования материалов
микро- и наноэлектроники. Позволяет проводить рентгенодифракционные
исследования материалов, в том числе методами дифрактометрии
высокого и низкого разрешения, построения карт обратного пространства,
рефлектометрии, дифрактометрии высокого разрешения под скользящими
углами, и исследования текстуры и напряжений в автоматическом режиме.
 
Реализуемые методы исследования:
• Рентгеновская порошковая дифрактометрия
• Рентгеновская рефлектометрия
• Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия
• Текстурный анализ (полюсные фигуры)
 Фазовый и структурный анализ твердых тел (порошки, поликристаллы);
 Исследование морфологии межслойных границ в многослойных структурах, с толщинами слоев вплоть до нескольких монослоев;
 Изучение особенностей морфологии поверхности и приповерхностных слоев по глубине (от десятых долей нанометра);
 Изучение структурных превращений в твердых растворах. 
Источник рентгеновского излучения - запаянная рентгеновская трубка  с медным анодом мощностью 2.2 кВт.
Первичная Оптика
• Параболическое многослойное рентгеновское зеркало (Зеркало Гёбеля) для создания квази-параллельного пучка
• Набор коллимирующих щелей
• 4-ёх кратный блок-монохроматор Ge(220)
Гониометр
• Горизонтальный гониометр с минимальный шагом по углам Theta и 2Theta: 0,0001° и воспроизводимостью  позиционирования углов Theta и 2Theta не хуже 0,0001°.
• Образец крепится на подвес Эйлера, обеспечивающий три поступательные и три вращательные степени свободы
• Вакуумный вращающийся держатель образцов диаметром 125 мм.
Вторичная Оптика
• Блок PathFinder включающий в себя: щель, щели Соллера, кристалл-анализатор
• Моторизированные щели
Системы детектирования
• Позиционно-чувствительный 1-D детектор LYNXEYE с числом каналов 190.
• Сцинтилляционный 0-D детектор
Программно-аналитические возможности
• рентгенофазовый анализ с использованием базы порошковых данных PDF2;
• рентгеноструктурный анализ посредством моделирования порошковых дифрактограмм, индицирование, метод Ритвельда;
• моделирование кривых отражения и построение распределения плотности по толщине пленок;
• анализ эпитаксиальных структур по спектрам высокого разрешения;
• анализ полюсных фигур, оценка текстур.
1500 руб /часГойхман
Александр Юрьевич
телефон:
+7 4012 595-595 (9022),
электронная почта: agoikhman@kantiana.ru
14Сварочный вращатель RWP small (Интертехприбор)Предназначен для вращения свариваемых изделий с рабочей скоростью сварки.Сварка цилиндрических деталей, фланцев.Максимальная грузоподъемность - 25 кг. Максимальный диаметр планшайбы - 280 мм. Угол наклона - 0°- 110° ручной. Скорость вращения - 0,4- 15,0 об/мин. Габаритные размеры 575х200х380мм. Масса - 22 кгЦена договорная, в зависимости от сложности работСиницын
Александр Валерьевич
телефон:
+7 962 261 60 71, электронная почта:
avs_1974@mail.ru.
15Сканирующий АСМ-оптический конфокальный микроспектрометр спектров комбинационнго рассеяния и флуорисцентного для работы в видимом и ультрафиолетовом диапазонеКомплекс Centaur U разработан для комплексных исследований физических свойств поверхности методами классической оптической микроскопии, конфокальной лазерной микроскопии, конфокальной спектроскопии и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микросокопии). Он позволяет получать полные спектры рамановского (комбинационного или КР) рассеяния и/или флюоресценции, конфокальные лазерные и конфокальные спектральные изображения (картирование поверхности), СЗМ (АСМ) изображения.  Конструкция комплекса Centaur U позволяет использовать как отдельные методики (например, конфокальная микроскопия/спектроскопия), так и проводить совмещение методик (включая совмещение полей сканирования, АСМ/Раман исследования и т.д.).Сочетание спектроскопии рамановского (комбинационного) рассеяния и сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микроскопии) в комплексе Centaur U применимо для проведения исследования в области физики, химии, биологии, междисциплинарных наук, таких как материаловедение, фармацевтика, биотехнологии и нанотехнологии. Это изучение состава, структуры и взаимодействия органических и неорганических веществ, особенностей структуры биологических клеток и микроэлектромеханических систем (MEMS).сканирующая СЗМ головка Certus для осуществления методик сканирования зондом (XYZ) и позиционирования зонда;
сканирующее основание Ratis для работы с методиками сканирования образцом и позиционирования образца (XYZ) относительно зонда или лазерного пятна;
два независимых конфокальных модуля для лазерной конфокальной микроскопии (в качестве детектора используется ФЭУ) и спектральной конфокальной микроскопии/спектроскопии (в качестве детектора используется ПЗС матрица для научных исследований);
монохроматор для получения спектров;
источник лазерного излучения (твердотельный лазер с диодной накачкой - DPSS, для рамановской спектроскопии);
прямой (upright) оптический микроскоп исследовательского класса с набором объективов;
однокоординатная пьезоподвижка Vectus для автоматической или полуавтоматической фокусировки, оптического сканирования по оси Z;
механическая подвижка для объектива для грубой полуавтоматической фокусировки (управляема с компьютера);
контроллер управления основными частями Centaur U EG-3000;
рабочая станция (персональный компьютер);
единое программное обеспечение NSpec.
Цена договорная. В зависимости от сложности работ.Самусев
Илья Геннадьевич телефон:
+7 911 862 04 58, электронная почта:
is.cranz@gmail.com.
16Сканирующий зондовый комплекс с опцией наноиндентрования и сопряжения с Рамановским спектрометром LabRam HR (Horiba Jobin Yvon S.A.S.)Применение – проведение исследований поверхности различных объектов с нанометровым пространственным разрешением в воздушной среде Измерительные методики;
 Магнитная силовая микроскопия;
 Микроскопия зонда Кельвина;
 Электросиловая микроскопия;
 Микроскопия пьезоотклика;
 Силовая спектроскопия;
 Нанолитография.
Технические характеристики: 
• Высокая скорость сканирования;
• Максимальный размер области сканирования 100х100х15 мкм;
• Точность позиционирования зонда и отсутствие искажений изображения за счет использования в сканере емкостных датчиков с обратной связью;
• Малошумящая регистрирующая система с ИК лазером для измерения чувствительных к свету образцов;
• Автоматизация измерений;
 Режимы работы:
• Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ);
• Атомно-силовая микроскопия (АСМ) 
1500 руб /часГойхман
Александр Юрьевич
телефон:
+7 4012 595-595 (9022),
электронная почта: agoikhman@kantiana.ru
17Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390LV интегрированный с энергодисперсионным анализатором Oxford INCAEnergyПредназначен для анализа поверхности микро-  и наноструктурКачественный и количественный  элементный анализ микрообъектов, картирование поверхности и приповерхностного слоя• Увеличение от 5 до 30000 раз
• Ускоряющее напряжение: 0,5-30 кВ
• Максимальный размер исследуемого образца – 150 мм
• Раствор конуса объективной линзы – 60 градусов
• Возможно исследование органических материалов
Режимы работы:
• регистрация вторичных (SEI) электронов
• регистрация обратно рассеянных электронов (BEI)
Характеристики энергодисперсионого анализатора:
• Разрешение 133 eV
• Определяемые элементы от Be до U

1500 руб /часГойхман
Александр Юрьевич
телефон:
+7 4012 595-595 (9022),
электронная почта: agoikhman@kantiana.ru
18Спектральный модульный флуориметр HORIBAИзмерение времени жизни возбужденного состояния (TCSPC)
Методика время-коррелированного счета фотонов TCSPC (Time-Correlated Single Photon Counting) используется для измерения времени жизни возбужденного состояния атомов твердых и жидких веществ как во временном диапазоне 10-2 – 10-4 сек, что характеризует фосфоресценцию, так и непосредственно флуоресценцию в диапазоне от 10-6 до 10-11 сек. Для измерения флуоресценции в указанных выше временных диапазонах в качестве импульсных источников возбуждения может использоваться импульсная Xe лампа, светодиоды NanoLED и диодные лазеры DeltaDiode, а в качестве приемников излучения доступен широкий выбор ФЭУ и других полупроводниковых детекторов, работающих в УФ - ближний ИК диапазоне. Измерение квантового выхода
Квантовый выход флуоресценции характеризует эффективность процесса флуоресценции различных веществ и определяется, как отношение количества испускаемых в результате флуоресценции фотонов к общему количеству поглощаемых фотонов. Для измерения квантового выхода используется интегрирующая сфера Quanta-Phi с широким выбором аксессуаров для различных типов образцов. Использование Quanta-Phi значительно расширяет аналитические возможности FluoroLog 3. Измерение анизотропии флуоресценции
Возбуждение вещества поляризованным излучением приводит к испусканию поляризованной флуоресценции. В начале процесса испускания фотонов это излучение поляризовано и постепенно возвращается к неполяризованному виду. Длительность процесса деполяризации флуоресценции зависит от вращательной диффузии исследуемого вещества, а также от других факторов. Анизотропия флуоресценции напрямую связана с поляризацией, и определяется как отношение поляризованного излучения к интенсивности общей флуоресценции. Измерение данного эффекта возможно благодаря установке автоматизированных поляризаторов в каналы возбуждения и эмиссии FluoroLog 3.
Измерение времени жизни возбужденного состояния (TCSPC).оотношение сигнал/шум
20 000:1 (метод СКО), Спектральный диапазон возбуждения флуоресценции, нм - 200 – 850. Спектральный диапазон эмиссии флуоресценции, нм - 200 - 850 нм. Спектральная полоса пропускания, нм - от 0 до 30. Точность установки длины длины волны, нм - 0,5. Спектральная воспроизводимость, нм - 0,1. Спектральное разрешение, нм - 0,15. Скорость сканирования, нм/сек - 150. Шаг сканирования, нм - от 0,0625 до 100. Время интегрирования - от 1 мс до 160 с. Источник возбуждения - езозоновая ксеноновая лампа 450 Вт
(опционально: импульсная ксеноновая лампа,
импульсные диоды, импульсные диодные лазеры и др.). Монохроматоры - зеркальная оптика, схема Черни-Тернера, одинарные или двойные. Решетки - 1200 штрих/мм с углом блеска
330 нм (возбуждение) и 500 нм (излучение) в стандартной комплектации (опционально: 150–4000 штрих/мм
с углом блеска от 250 нм до 9 мкм). Детекторы - ФЭУ R928P 185 – 850 нм
фотодиод для коррекции возбуждения
(опционально: ФЭУ, матричные детекторы (EMCCD, iCCD, ПЗС), твердотельные детекторы)
 Самусев
Илья Геннадьевич телефон:
+7 911 862 04 58, электронная почта:
is.cranz@gmail.com.
19Спектрофлуориметр модель RF-5301 PC (Shimadzu)Регистрация спектров
возбуждения и испускания с возможностью
последующей обработки спектров
(определение положения максимумов
и минимумов, определение измеряемой
величины в выбранных точках, расчет
площади, вычитание спектров, производные
1%4 порядка, сглаживание, арифметические
операции и логарифмирование);
Регистрация спектров возбуждения и испускания с возможностью последующей обработки спектровСпектральный диапазон измерения 220 - 750 нм (до 900 нм дополнительно) и нулевой порядок
Ширина щели 1,5; 3; 5; 10; 15 и 20 нм
Скорость сканирования 7 ступеней: от 5500 нм/мин и ниже
Погрешность по шкале длин волн ± 1,5 нм
Чувствительность Сигнал/шум 150 и выше для рамановской полосы
дистиллированной воды (λвоз = 350 нм, щель 5 нм, t = 2 с)
Постоянная времени 0,02; 0,03; 0,1; 0,25; 0,5; 2; 4 и 8 с
Диапазоны чувствительности «Высокая» и «Низкая» (различаются в 50 раз)
Размеры 667 * 530 * 270 мм
Вес 43 кг
 Самусев
Илья Геннадьевич телефон:
+7 911 862 04 58, электронная почта:
is.cranz@gmail.com.
20Спектрофотометр &quot;UV-3600&quot; (SHIMADZU) сканирующий для работы в УФ/Видимом/ИК диапазонахПредназначен для проведения спектральных исследований в широкой области спектра. Предоставляемые рабочие режимы: спектральный - регистрация поглощения, пропускания или отражения, сканирование по длине волны с возможностью последующей обработкой спектра (определение положения максимумов и минимумов, арифметические операции, расчет площади, сглаживание, обратные величины, логарифмирование,производная с 1 до 4 порядка); фотометрический (количественный)- измерение на одной или нескольких (до 3)выбранных длинах волн, построение градуировочной кривой методом К-фактора, одноточечным или многоточечным; кинетический - регистрация изменения измеряемой величины во времени. Количественная оценка свойств отражения или пропускания света материалом в зависимости от длины волны света.
Оценка ширины запрещенной зоны материала и прямых переходов между энергетическими уровнями.
• используются 3 детектора, позволяющие проводить спектральный анализ в диапазоне длин волн 180-3600 нм1500 руб /часГойхман
Александр Юрьевич
телефон:
+7 4012 595-595 (9022),
электронная почта: agoikhman@kantiana.ru
213D принтер Zortrax M200может применяться в сферах архитектуры, промышленности, ландшафтного дизайна, картографии, обучения, промышленного дизайна, сувенирной продукции, медицины, анимации и многих других областей конструирования и проектирования, где на этапе концепта необходимо выявить и оптимизировать все возможные ошибки и недочеты. Качество печати позволяет изготавливать как заготовки и прототипы различных изделий и деталей, так и функциональные предметы повседневного пользования.Качество печати позволяет изготавливать как заготовки и прототипы различных изделий и деталей, так и функциональные предметы повседневного пользования.Цвет модели на выбор из палитры цветов
Точность позиционирования (X|Y) - 1.5 микрон
Точность позиционирования (Z) - 1.25 микрон
Разрешение печати - 25-400 микрон
Максимальный объем модели - 200 x 200 x 185 мм.
Материалы - Z-ABS, Z-ULTRAT (особо прочный пластик), Z-Glass (прозрачный пластик)
Форматы файлов для печати - .stl, obj, dxf.
от 500 руб.Еровенко
Дмитрий Владимирович
телефон:
+7 911 863 61 65, электронная почта:
kd3dprint@gmail.com.
223D сканер REVscan (ZScanner 700)Реверс-инжиниринг, трехмерный контроль, разработка, производство, цифровое макетирование, моделирование, музейное дело.Реверс-инжиниринг, трехмерный контроль, разработка, производство, цифровое макетирование, моделирование, музейное дело.Линейная точность по осям X и Y до 50 микрон, по оси Z 100 микрон
Предельное разрешение по ISO: 20 мкм + 0,2 L / 1000.
Глубина резкости объекта 30 см (12 дюймов)
Цвет сканирования монохром
от 3000 руб.Еровенко
Дмитрий Владимирович
телефон:
+7 911 863 61 65, электронная почта:
kd3dprint@gmail.com.
23Струйный цветной 3D принтер3D принтер Zprinter 450 может применяться в сферах архитектуры, промышленности, ландшафтного дизайна, картографии, обучения, промышленного дизайна, сувенирной продукции, медицины, анимации и многих других областей конструирования и проектирования, где на этапе концепта необходимо выявить и оптимизировать все возможные ошибки и недочеты.Цветная 3D печать.Цветность 180.000 цветов
Разрешение 300 x 450 точек/дюйм
Минимальный размер топологического элемента 1,5 мм
Вертикальная скорость построения объекта 23 мм/час
Размер объекта до 203 x 254 x 203 мм
Используемые материалы: высококачественный композитный материал на основе гипса
Толщина слоя 0,089 – 0,102 мм
Форматы файлов для печати STL, VRML, PLY, 3DS, ZPR, OBJ.
от 500 руб.Еровенко
Дмитрий Владимирович
телефон:
+7 911 863 61 65, электронная почта:
kd3dprint@gmail.com.
24Тепловизор «FLIR P660»Обследование тепловой изоляции зданий и сооружений. Контроль машин и механизмов, систем электроснабжения. Поиск течей.Подготовка приемо-сдаточной документации объектов строительства. Строительно-техническая, промышленная экспертиза, оценка класса энергоэффективности. Услуги: теплотехнические расчеты, тепловизионное обследования зданий, сооружений и оборудования.Диапазон измерений:
От минус 40 °С до
плюс 1500 °С
Класс точноти, погрешность:
ПГ ± 1 °С
от 3000 за отдельные обследования, от 15000 за комплексныеРуднев
Глеб Сергеевич
телефон:
+7 911 454 38 09, электронная почта:
nevrud@mail.ru.
25Универсальная испытательная машина Instron ElectroPuls Е1000Электродинамическая испытательная система, разработанная для проведения динамических и статических испытаний широкого ряда материалов компонентов.Проведение динамических и статических испытаний широкого ряда материалов компонентов.Предельная нагрузка, кН -+1, Рабочее пространство ВхШ, мм 610х3701000 руб за исследование одного образца одной из методикЛейцин
Владимир Нояхович телефон:
+7 911 487 61 71, электронная почта:
vleitsin@kantiana.ru.

26Ускоритель ионов типа ван де Граффа (High Voltage Engeneering Europa)Экспериментальный комплекс на базе ускорителя типа Ван-де-Граафа HVEE AN-2500 – генератор высокого напряжения, принцип действия которого основан на электризации движущейся диэлектрической ленты. Применяется для ускорения различных заряженных частиц, ионной имплантации и исследований методом обратного резерфордовского рассеяния. Ускоритель позволяет проводить исследования используя ионы водорода или гелия в диапазоне энергий 0,8-2,0 МэВ.Легирование полупроводников с целью создания p-n переходов, гетеропереходов, низкоомных контактов.Диапазон масс: В ±150 321 а.е.м
Диапазон энергии: 200-2000 КэВ для одного вида ионов.
Ток пучка диапазон:
800-2000KV:     4He+; 11B+; 16O+; 28Si+; 31P+; 40Ar+; 75As+
≈150μA; ≈40μA; ≈35μA; ≈40μA; ≈40μA; ≈200μA; ≈40μA.:
400-800KV:  примерно 70% от указанных выше значений
200-400KV:  примерно 50% от указанных выше значений

Пульсация тока пучка: ± 10%
Стабильность напряжения на клеммах: пульсация ±2 KV, направление ±2 KV
1000 руб за исследование одного образца одной из методикГойхман
Александр Юрьевич
телефон:
+7 4012 595-595 (9022),
электронная почта: agoikhman@kantiana.ru
27Установка импульсно-лазерного осаждения (абляции) SMART NanoTool PLD-01 (SVTA)Импульсно лазерное осаждение (PLD) - технология по созданию тонких пленок (с контролируемыми толщинами от 1 ангстерма до сотен нанометров) посредством распыления материала мишени мощным сфокусированным лазерным импульсом внутри вакуумной камеры. Рост тонких пленок происходит в камере (вакуум до 10-11 Торр) при помощи двух Nd:YAG лазеров (Nd:YAG лазер LS-2137U) и (Nd:YAG лазер LS-2136). Создание тонких пленок посредством распыления материала мощным сфокусированным лазерным импульсом внутри вакуумной камеры.• для лазерной абляции используется твердотельные Nd:Yag лазеры, работающие на 4 гармониках: 266 нм, 355 нм, 532 нм, 1064 нм.
• осаждение при различных температурах до 800 градусов Цельсия.
• осаждение в атмосфере различных рабочих газов или их смеси
• осаждение в вакууме до 10-11Torr
• прецизионный контроль толщины пленки с точностью до 0,01 ангстрема
• со-осаждение материалов и получение многокомпонентных структур посредством использования дополнительного лазера или магнетронного распыления (MS).
2000 руб /часГойхман
Александр Юрьевич
телефон:
+7 4012 595-595 (9022),
электронная почта: agoikhman@kantiana.ru
28Установка ионно-плазменного напыленияУстановка ионно-плазменного напыления – это полупромышленный комплекс оборудования, созданный для нанесения тонкопленочных оптических покрытий методом ионно-плазменного осаждения. В общих чертах процесс можно описать как травление мишени ионным пучком и конденсацию стравленного материала на подложке.

Сначала плазма формируется из инертного газа внутри газоразрядной камеры источника, затем с помощью магнитного поля и ионной оптики (сеток) поток положительно заряженных ионов формируется и направляется к мишени, нейтрализуясь проходя через облако электронов, формируемое нейтрализатором из того же газа, который поступает к источнику. Направленный пучок нейтралей выбивает из мишени ионы и небольшие фракции материала, которые затем конденсируются на подложках.
К данному процессу можно добавить активный газ, с которым будет связываться материал, выбитый из мишени, формируя тем самым слои определенных соединений (например, оксиды и нитриды). Также на подложки можно направить еще один поток нейтралей из дополнительного ионного источника, который будет влиять на осаждаемый материал, заставляя его кристаллизоваться и расти эпитаксиально.
Получение простых и сложных тонких пленок.• источник положительных ионов Кауфмана диаметром 12 см с ионной оптикой, состоящей из 3х сеток,
• держатель распыляемых мишеней, рассчитанный на 3 мишени и снабженный поворотным механизмом,
• планетарная система (вращающаяся) держателей образцов,
• кварцевый и оптический контроль толщины напыляемых пленок in situ,
• газовая система, позволяющая применять Ar и Kr в качестве источников плазмы,
• система подвода дополнительных газов (O2 и N2) для создания пленок оксидов и нитридов,
• дополнительный бессеточный источник Кауфмана для травления и ассистирования во время осаждения,
• откачная система, состоящая из спирального форвакуумного насоса и криовакуумного насоса для достижения высокого вакуума порядка 2*10-5 Па.
2000 руб /часГойхман
Александр Юрьевич
телефон:
+7 4012 595-595 (9022),
электронная почта: agoikhman@kantiana.ru
29Установка магнетронного напыления ORION-8-UHV (AJA INTERNATIONAL)Установка предназначена для магнетронного осаждения слоев магнитных и немагнитных материалов включая диэлектрики и композитные материалы на подложки размером до 100 мм включительно.Создание многослойных тонкопленочных структур с уникальными свойствами - сплавы Гейслера, мультиферроики, магнито-плазмонные и спин-вентильные структуры, а также бифазные микропровода.Пять независимых магнетронов 2 на постоянном токе
  3 на токе высокой частоты
Система откачки на базе турбомолекулярного насоса вакуум не хуже 5*10-7мм рт.ст.
Подложкодержатель с приводом вращения температура прогрева до 800 оС
Подложкодержатель, охлаждаемый жидким азотом 
Три независимые линии подачи газов 
Система компьютерного управления процессом
от 5000 руб.Родионова
Валерия Викторовна
электронная почта:
VVRodionova@kantiana.ru.
30Установка по нанесению биоактивных и биосовместимых покрытий на рулонный материалВакуумная установка магнетронного напыления большой площади является универсальной напылительной установкой с возможностью частичной модификации и изменения функционала под требования пользователя. На данном типе оборудования возможна реализация магнетронного распыления с одного магнетрона. Существует также набор опций, позволяющий расширить возможности базовой комплектации: установка источника ионов для чистки и активации поверхности, различные варианты оснастки под образцы (в том числе и перемоточный механизм). Нанесение тонких металлизированных покрытий на ткани с использованием высокочастотного источника магнетронного распыления;
Разработка и оптимизация процессов формирования тонкопленочных наноструктурированных покрытий. 
• Размеры камеры ДхШхВ не менее 1000х1000х600мм;
• Площадь покрытия составляет 4000 см2;
• Рабочее давление в камере не менее 5 х 10-5 Па;
• Вакуумная система откачки с турбомолекулярным насосом, производительностью не менее 1000 л/с;
• Скорость осаждения материала достигает 30 Å/с;
• Система прогрева рабочей камеры для высоковакуумных применений до 1000 С.
• Формирование на подложках тонкопленочных покрытий: серебра (Ag) со скоростью не менее 200 нм/мин; оксида кремния (SiO2) со скоростью не менее 10 нм/мин, при этом, температура подложки во время напыления не превышает 50 oC.
• Размеры загружаемых образцов до 900× 300 мм.
• PLC контроллер. 
2000 руб /часГойхман
Александр Юрьевич
телефон:
+7 4012 595-595 (9022),
электронная почта: agoikhman@kantiana.ru
31Электроэрозионный проволочно-вырезной станок MV1200S Advance (Mitsubishi Electric)Производство штампов и пресс-форм, производство инструментов.Высокоточная металлообработка.Максимальный размер заготовки: 810x700x215 мм
Максимальный вес заготовки: 500 кг
Размер стола: 640x540 мм
Конструкция стола: П-образный, секционный
Перемещения по осям (X/Y/Z): 400x300x220 мм
Перемещения по осям (U/V): 120x120 мм
Угод наклона проволоки/высота детали: 15°/200 мм, 30°/87 мм
Наилучшая шероховатость: Ra 0,25 мкм
Точность, достигаемая на детали: ±0,002 мм
Диаметр проволоки: 0,1–0,3 мм
Вес катушки с проволокой: 10(20/50) кг
Устройство автоматической заправки и рубщик проволоки: стандарт
Минимальное отверстие для автозаправки:0,5 мм
Диэлектрик: деонизированная вода
Генератор импульсов: антиэлектролизный V350V с полностью цифровым управлением DAE II
Максимальный рабочий ток: 50 А
Система управления: MITSUBISHI ADVANCE (64 разряд., RISC технологии), со встроенным 3D/2D CAM, RAM 1ГБ
Объем бака диэлектрика: 550 л
Степень фильтрации рабочей жидкости: 3–5 мкм
Количество фильтров: 2
Объем баллона для ионообменной смолы: 10 л
Компрессорная система охлаждения диэлектрика: Стандарт
Полная подключаемая электрическая мощность: 13,5 кВА (3 фазы, 400±10% В)
Активная потребляемая электрическая мощность/ в режиме «сна»: 6,0/0,8 кВт
Давление сжатого воздуха: 0,5–0,7 МПа
Макс. расход сжатого воздуха: 40–75 л/мин
Общий вес станка: 2700 кг
Габаритные размеры установки: 2025x2760x2015 мм
Цена договорная, в зависимости от сложности работСиницын
Александр Валерьевич
телефон:
+7 962 261 60 71, электронная почта:
avs_1974@mail.ru.
32Электроэрозионный станок для стартовых отверстий AD24 (Advanced Machinery EDM)Высокопрецизионное сверление стартовых отверстий в металлах сплавах и проводящих керамиках в том числе в материалах очень высокой твердости не подающихся обработке другими способами.Высокоточная металлообработка.Конструкция станка: Подвижный стол
Максимальные размеры детали, мм: 810x510x240
Используемый диаметр электрода, мм: 0,3–3,0 (0,15–6,0)
Максимальный вес заготовки, кг: 300
Размер рабочего стола, мм: 450x260
Перемещения по осям (XxYx Z), мм: 400х250х370
Генератор импульсов: HCD
Максимальный рабочий ток, А: 50
Система управления: контроллер
Модуль нарезания резьбы М2–М8: отсутствует
Максимальная скорость сверления, мм/мин: 40
Минимальный износ электрода, %: 20
Автоматический сменщик электродов, поз.: отсутствует
Объем бака диэлектрика, л: 30
Степень фильтрации рабочей жидкости, мкм6 10
Количество фильтров: 1
Полная подключаемая электрическая мощность, кВА: 6
Давление сжатого воздуха, Мпа: 0,5–0,7
Вес станка, кг: 650
Габаритные размеры установки, мм: 1150x900x2150
Цена договорная, в зависимости от сложности работСиницын
Александр Валерьевич
телефон:
+7 962 261 60 71, электронная почта:
avs_1974@mail.ru.

 


 Технологический потенциал Калининградской области
В начало страницы